بله
طیف نمایی روشی علمی است که به بررسی و اندازه‌گیری طیف‌های تولیدشده‌ی نور می‌پردازد. کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی، نوشته‌ی علی محمد قائمی نیا و محمد اخوان قالیباف از کاربردهای طیف نمایی پرتوی ایکس در بررسی و شناخت بیشتر مواد در منابع طبیعی صحبت می‌کند.
درباره کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی
پس از برگزاری کارگاه آموزشی «روش‌های جدید XRF و پرسش‌های مرتبط با آن در ایران» با حضور دکتر رینولد شولتز از کشور آلمان، به عنوان یکی از متخصّصان این زمینه در دانشکده منابع طبیعی و کویرشناسی دانشگاه یزد در آذرماه سال 1393، لزوم وجود منبعی جامع و تخصّصی برای دانشجویان و پژوهشگران منابع طبیعی در این زمینه احساس شد و نویسندگان را بر آن داشت تا آموخته‌ها، تجربیات عملی و یافته‌‌های علمی خود را در استفاده از روش XRF، در اختیار علاقه‌مندان قرار دهند.
کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی از چهار فصل تشکیل شده است: فصل اوّل به مفاهیم و تاریخچه اختصاص یافته است. در فصل دوم، تئوری و اصول بنیادین آنالیز XRF مطرح و سعی شده گزیده‌ای از مباحث مفید کارگاه آموزشی یادشده که به زبان انگلیسی برگزار گردید، در آن گنجانده شود. تجربیات نویسندگان علی محمد قائمی نیا و محمد اخوان قالیباف در انجام آنالیز XRF در آزمایشگاه، در فصل سوم آمده است و در فصل چهارم با ذکر مثال‌هایی به انواع کاربردهای مختلف این آنالیز در منابع طبیعی پرداخته می‌شود.
این کتاب می‌تواند منبع بسیار مفیدی برای دانشجویان رشته‌های مرتبط با منابع طبیعی باشد تا در پژوهش‌ها، مقالات یا پایان‌نامه‌های خود از آن استفاده کنند.
کتاب کاربرد کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی مناسب چه کسانی است؟
دانشجویان منابع طبیعی، پژوهشگران و علاقه‌مندان به مبحث طیف نمایی از مطالعه‌ی کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی بهره خواهند برد.
در بخشی از کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی می‌خوانیم
از آنچه که هر روز تجربه می‌کنیم می‌دانیم که نور به طور کلّی در خطوط مستقیم حرکت می‌کند. این امر با مفهوم نور به عنوان پرتویی از ذرّات (فوتون‌ها، کوانتوم‌ها) مطابقت دارد. ما از امواج روی اقیانوس می‌دانیم که وقتی یک سری موج از میان روزنه‌ای کوچکتر نسبت به طول موج عبور کنند، امواج که از روزنه خارج می‌شوند به اطراف پخش می‌شوند. نور همان ویژگی موج را نشان می‌دهد. انحراف نور به واسطه سیر آن در یک خط مستقیم، انکسار (پراش) نامیده می‌شود.
کاربردهای متعددی برای اثرات انکسار وجود دارد. در XRF پاشنده طول موج، ما عمدتاً علاقه‌مند به انکسار در شبکه‌های بازتاب هستیم. اغلب در دامنه نور مرئی (λ برابر 750-380 نانومتر)، شبکه‌های آینه‌ای ایجاد شده توسّط شیارهای فاصله‌دار در فواصل مساوی در بازتاب سطح فلزی هستند که استفاده می‌شود. این امر در زمینه پرتوی ایکس امکان‌پذیر نیست؛ زیرا طول موج‌های درگیر در حدود 2 تا 5 مرتبه از لحاظ بزرگی، کوچکتر (λ برابر 11-0/02 نانومتر) هستند. فواصل شبکه بسیار کوچکتری، مانند مواردی که در بلورهای طبیعی یافت می‌شود، برای انکسار پرتوی ایکس در شبکه بازتابی لازم است.
بعد از برانگیخته شدن عناصر موجود در نمونه توسّط پرتوی ایکس، آمیزه‌ای از طول موج‌های مشخّصه هر عنصر (پرتوهای تابان‌شده) نمونه را ترک می‌کند. در حال حاضر، دو روش در XRF برای شناسایی این طول موج‌های گوناگون وجود دارد.
